Advantest 发布 Pin Scale 5000B 数字测试方案
新方案扩展 V93000 EXA Scale 平台的向量存储及数字测试能力,面向 AI 和 HPC 器件。
Advantest 于 2026 年 4 月 22 日发布 Pin Scale 5000B,扩展 V93000 EXA Scale 平台的数字测试能力。
根据官方介绍,新方案增加可用向量存储容量,并支持复杂扫描架构中的多核并行测试。公布的数据速率最高为 5 Gbps,目标是应对先进节点与 Chiplet 架构带来的测试数据量和覆盖率需求。
原始报道:Advantest ↗
