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Advantest 发布 Pin Scale 5000B 数字测试方案

行业资讯来源:Advantest

新方案扩展 V93000 EXA Scale 平台的向量存储及数字测试能力,面向 AI 和 HPC 器件。

半导体行业示意配图,非新闻现场照片 / Illustrative image

Advantest 于 2026 年 4 月 22 日发布 Pin Scale 5000B,扩展 V93000 EXA Scale 平台的数字测试能力。

根据官方介绍,新方案增加可用向量存储容量,并支持复杂扫描架构中的多核并行测试。公布的数据速率最高为 5 Gbps,目标是应对先进节点与 Chiplet 架构带来的测试数据量和覆盖率需求。

原始报道:Advantest ↗